danh mục sản phẩm
Kính hiển vi điện tử CEM3000A Chotest
- Bảo hành sản phẩm 12 tháng
- Giao hàng miễn phí toàn quốc
- Hỗ trợ tư vấn kỹ thuật 24/7 (cả dịp Lễ, Tết)
- Bảo hành nhanh chóng khi khách hàng phản hồi
Tel: 0283-53.59-888
Kính hiển vi điện tử scan CEM3000A Chotest
CEM3000A Scanning Electron Microscope
CEM3000A là kính hiển vi điện tử quét (SEM) được thiết kế để quan sát cấu trúc vi mô và phân tích bề mặt mẫu vật, phù hợp cho các lĩnh vực như khoa học vật liệu, sinh học, nanotechnology, năng lượng, điện tử ….
Thông số kỹ thuật chính
Cấu hình & thiết kế
-
Loại thiết bị: Scanning Electron Microscope (SEM) – để bàn (benchtop)
-
Nguồn điện tử: Tungsten filament (sợi đốt vonfram)
-
Trọng lượng: ~120 kg
-
Kích thước: 400 × 670 × 730 mm (W × L × H)
-
Điện áp đầu vào: 200–240 VAC, 50/60 Hz, ~800 W
Hiệu suất & khả năng quan sát
Độ phóng đại & độ phân giải
-
Độ phóng đại: 40× đến 300 000×
-
Độ phân giải: ≤ 4 nm (SE) & ≤ 8 nm (BSE) @20 kV
SE = secondary electrons (electron thứ cấp), BSE = backscattered electrons (electron tán ngược) – hai loại tín hiệu phổ biến dùng để tạo ảnh bề mặt trong SEM.
Điện tử & chân không
-
Điện áp gia tốc: 1 kV–20 kV
-
Hệ thống chân không:
-
Chân không cao: < 9 × 10⁻³ Pa
-
Tùy chọn: chân không thấp 5–100 Pa
-
Giai đoạn mẫu & probe
-
Kích thước mẫu tối đa: 70 mm × 70 mm × 45 mm
-
Bàn mẫu:
-
Motorized 3 trục X, Y, T (điện)
-
Manual R (quay), Z (lên–xuống)
-
-
Có thể nghiêng & quay mẫu để quan sát tốt hơn ở nhiều góc.
Hệ thống quan sát & phần mềm
-
Camera trong buồng mẫu:
-
Top-View camera (màu, độ phân giải cao)
-
Side-View IR camera (tầm nhìn bên)
-
-
Hệ điều hành & phần mềm: Windows 10/11 (64-bit)
-
Các chức năng tự động:
-
Tự động lấy nét (auto focus)
-
Tự động cân chỉnh (auto alignment)
-
Tự động hiệu chỉnh cực sai (auto stigmation)
-
Tối ưu ảnh chỉ bằng một click
-
Phân tích thành phần & tùy chọn mở rộng
-
Optional EDS (Energy Dispersive Spectrometer): hỗ trợ phân tích nguyên tố (các hãng như Bruker hoặc Oxford)
-
Tùy chọn khác:
-
Chế độ chân không thấp
-
Stitch lớn khu vực (large area stitching)
-
Các probe phụ trợ khác
-
Ứng dụng điển hình
Máy CEM3000A được dùng phổ biến cho các ứng dụng:
✔ Quan sát bề mặt & cấu trúc vật liệu
✔ Kiểm tra độ đồng nhất & morphology của bề mặt
✔ Phân tích thành phần (khi lắp EDS)
✔ Nghiên cứu vật liệu nano, vật liệu pin, sinh học, công nghệ phủ …
Tóm tắt nhanh – CEM3000A
| Thuộc tính | Thông số |
|---|---|
| Loại | SEM để bàn |
| Phóng đại | 40× – 300 000× |
| Độ phân giải | ≤ 4 nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) |
| Điện áp gia tốc | 1 – 20 kV |
| Kích thước mẫu tối đa | 70 × 70 × 45 mm |
| Chân không | Cao & tùy chọn thấp |
| Đặc tính | Auto alignment, auto focus, high-contrast imaging |
